Malzeme Nitelendirme

​Omya'nın mantıksal analiz ve mikroyapısal laboratuvarları hem Omya'da hem de müşterilerimizde üretim kalitesinin yanısıra araştırma ve geliştirme faaliyetlerini de yoğun şekilde desteklemektedir.  Bütün laboratuvarlar deneyimli bilim adamları ve teknisyenler tarafından çalıştırılan son teknolojiye sahip ekipman ile donatılmıştır. 

Omya'nın mantıksal analiz ve mikroyapısal laboratuvarlar departmanı ISO 9001:2008'e göre tamamen belgelendirilmiştir ve aşağıdaki birimlerden oluşur:

  • Tahlil laboratuvarı
  • Kristalli malzeme laboratuvarı
  • Mikroskopi laboratuvarı
  • Reoloji laboratuvarı

Tahlil Laboratuvarı

Tahlil laboratuvarı işleri yönetmek ve araştırma ve ürün geliştirmeyi aktif şekilde destekleyebilmek için gerekli olan destek, teknik bilgi ve yüksek kalitede problem çözme hizmeti sunmaktadır. Laboratuvar analitik kimyanın bir çok alanını kapsayan geniş yelpazede teknik ve metotları kullanmaktadır.  Laboratuvar tekniklerine tanımlama ve nitelendirme açısından geniş yelpazede malzeme için kimyasal, element ve eser metal analizleri dahildir.

Tahlil laboratuvarının altyapısını aşağıdakiler oluşturur:

  • Odak düzlemli mikroskoba sahip infra-red spektroskopisi 
  • X-ışınları floresan spektroskopisi (XRF)
  • İndüktif olarak eşlenmiş plazmalı spektroskopi (ICP-MS)
  • Gaz kromatografisi (GC-FID, GC-MS, HS/TD-GC-MS)
  • Sıvı kromatografisi (UHPLC, UHPLC-MS/MS)

Kristalografi Laboratuvarı

Kristalografi laboratuvarı X-ışınları toz kırınım ölçümü kullanarak mikroyapısal analizleri ve mikrobatırma kullanarak malzeme sertliği tayini yapar.  Laboratuvar kaya, maden numuneleri, deneysel ürünler ve diğer birçok kristalin malzemeyi –organik ve inorganik- analiz etmektedir.  Yüksek kaliteli analizlerimizin sonuçları ile birlikte partikül boyutu dağılım verileri (SWeRF) Boyuta Göre Düzenlenmiş Solunabilir Fraksiyon (SWeRF) metodu kullanılarak yarı mamul ürünlerde ince kristalli silika fraksiyonlarını belirleyebilmemizi sağlar.  Omya kristalografi laboratuvarı Endüstriyel Mineraller Birliği (IMA) Avrupa tarafından SWeRF tespiti için İsviçre'de önerilen tek merkezdir.

Kristalografi laboratuvarında

  • Bruker AXS D8 Gelişmiş Seri II – XRD bulunur.

Equipped with:
◾  Vantec-1 yüksek hızlı detektör
◾  Dk-okuz pozisyonlu numune değiştirici
◾  TTK 450 düşük sıcaklık haznesi (-193 °C ila 450 °C)
◾  Kompakt Eulerian yatağı
◾  INNOVATEST Micro-Vickers 423 A

Mikroskopi laboratuvarı

Son teknolojiye sahip mikroskopi ekipmanımız ile çeşitli numuneler analize edilebilir.  Elektron mikroskopisi mikro-materyal ve nano-materyalleri incelemek için kullanılabilir.  Bu alandaki güçlü yönümüz hem insan yapımı hem de doğal malzemelerin mikroskobik olarak tanımlanmasına yönelik numune hazırlığında yılların birikimine sahip olmamızdır.

Mikroskopi laboratuvarının altyapısı aşağıdakilerden oluşur:
◾  Şeffaf veya opak numunelerin incelenmesi için ışık mikroskopisi (büyütme: 7x ila 1 000x)◾  Yüzeylerin 3D yeniden yapılandırılmasını sağlayan derinlik seçimine sahip yüksek çözünürlüklü çoklu optik görüntülerin elde edilmesi için aynı odaklı lazer taramalı mikroskopi (CLSM) (büyütme: 50x ila 1 000x)
◾  SE, BSD ve EDS detektörleri ile donatılmış ve yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve eksiksiz kimyasal analiz imkanı sunan alan emisyon taramalı mikroskopi (FESEM) (büyütme: 20x ila 100 000x)
◾  Dijital görüntülerden anlamlı bilgilerin çıkarılması için görüntü analizi yazılımı

Reoloji Laboratuvarı

Reoloji laboratuvarı özellikle süspansiyonlar, ancak aynı zamanda jel, sıvı ve tozlar için kompleks sıvıların akış özelliklerini karakterize etmek üzere donatılmıştır. Reolojik özelliklerin anlaşılması ve kontrolü çok sayıda ürün ve uygulama açısından kritik öneme sahiptir.

Reoloji laboratuvarının altyapısını aşağıdakiler oluşturur:

◾  Rotasyonel ve salınımlı deneyler için reometre
◾  Kapilerli viskozimetre (tek nokta ölçümleri ve seyreltme serileri, örn. yapısal viskozite)
◾  Yüzeysel gerilimin belirlenmesi için gerilim ölçer
◾  Toz reometresi